日本顕微鏡学会 第78回学術講演会にて発表しました-1

日本顕微鏡学会 第78回学術講演会にて下記内容を発表しました。

XeプラズマFIBを用いた電池材料の三次元構造解析
発表者:島貫 純一、荻生 秀作、齋藤 憲男、荒木 祥和、穐場 亨(日産アーク)
2022.5.11 福島ビッグパレット
http://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2022/index.html

 

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