観察・画像解析

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ナノ･メゾ･マクロスケールの画像解析および材料特性シミュレーション

電装品の導通不良原因調査

SiC-MOSFET高温ダイアタッチの熱劣化解析

3D-SEM法による複数層セパレータの空孔ネットワーク解析

X線透視像、X線CT像による内部構造の非破壊可視化

イメージングIRによる溶着界面の結晶化度解析

高分子の破損解析 (ポリエチレン樹脂の延性破面解析)

高分子の破損解析 (ポリカーボネートの環境応力割れ)

3D-TEMを用いたナノ粒子のネットワーク構造解析

3D-TEMを用いたシリカ凝集体ネットワーク構造と光学特性

成分分析接合 SEI 電解液表面分析マッピング劣化解析界面 TEM 構造解析 LIB

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