パワーデバイスの信頼性試験と複合観察

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SiC-MOSFET高温ダイアタッチの熱劣化解析

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パワーエレクトロニクス電気特性評価

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パワー半導体のSmartオンゴーイング信頼性試験

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EDSマッピングによるチップ抵抗不具合の原因調査

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パワーサイクル寿命比較によるSiCパワー半導体の封止法の評価

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温度ストレス負荷のための冷却カーブを使ったT_j測定によるパワーサイクル試験

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パワーサイクル試験による電気･熱ストレスを印加した半導体チップ信頼性評価

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パワーエレクトロニクス信頼性試験

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ナノインデンテーションによる高温ダイアタッチの硬さ分布測定

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