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正極活物質表面の状態分析がラボレベルで可能です
正極活物質表面の状態分析
正極材の劣化は、活物質自身の結晶構造よりも、電解液に接している活物質表面がダメージを受ける場合が多いと言われています。XPSは表面数nm領域の状態分析を行えるため、劣化に伴う活物質表面の状態変化を調べるのに有効な手法です。NiとFを含む合剤電極の場合、一般のXPS装置ではピーク重複が起こりNiの状態分析が困難でしたが、Ag Lα線を用いることによりピーク重複を回避し、Niの状態分析を行うことが可能となりました。
正極材Li(Mn, Co, Ni)O2のAg Lα線励起XPSによる定性分析
光電子は固有の結合エネルギー値を持つのに 対し、Auger電子は固有の運動エネルギーを有します。そのため、励起エネルギーを変えて測定すると、Augerピークの結合エネルギー値が変わり、ピークの重複を回避することができます。
正極材Li(Mn, Co, Ni)O2のAg Lα線励起XPSによる表面状態分析
サイクル劣化により、試料の表面近傍において、充放電に伴うNi価数変化のない領域が存在していることが示唆されました。
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