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界面構造を把握して、溶着強度を高くする因子を捉えます。
マイクロビーム広角散乱法 (m-WAXS) による溶融層の構造変化
5μmに絞ったX線を用いることで、FT-IRよりも高い空間分解能で、溶融層が配向していることが分かりました。さらに、回折ピークのリートベルト解析を進めることで、結晶構造変化から配向の定量化が可能となります。
5μmピッチで溶着層厚さ方向の回折パターン変化を測定したところ、溶融層近傍で、A (110) とB (112), (210), (111) の回折ピーク強度が変化していることがわかりました。
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