多孔質材料の微細孔分布観察にはSEM、孔内の構造観察にはTEMを用い、その試料調整法としては
・樹脂包埋法
・凍結割断法
が一般的には用いられます。しかしそれらは樹脂の浸透や割断の衝撃などで構造の変化などにより観察に適さない場合が散見されます。
それらの欠点を解消した、当社オリジナル技術である「MVP法」 (Maintenance and Visualization of in-Porous structure法) を用いることで、空孔および高分子バインダーを可視化することができるようになりました。