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日本顕微鏡学会 第80回学術講演会にて発表を行います。
「クライオ電子顕微鏡の有用性および試料前処理の影響」
発表者：尾形 優也、磯田 綾乃、宮田 葉子、川本 宇子、島貫 純一、荒木 祥和
2024.6.3-6.5 幕張メッセ国際会議場（千葉県）
https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2024/
「クライオ電子顕微鏡の有用性および試料前処理の影響」
発表者：尾形 優也、磯田 綾乃、宮田 葉子、川本 宇子、島貫 純一、荒木 祥和
2024.6.3-6.5 幕張メッセ国際会議場（千葉県）
https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2024/
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