日本顕微鏡学会 第80回学術講演会にて発表を行います。
「電子顕微鏡および試料前処理の環境温度最適化」
発表者:磯田 綾乃、宮田 葉子、尾形 優也、川本 宇子、島貫 純一、荒木 祥和
2024.6.3-6.5 幕張メッセ国際会議場(千葉県)
https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2024/
「電子顕微鏡および試料前処理の環境温度最適化」
発表者:磯田 綾乃、宮田 葉子、尾形 優也、川本 宇子、島貫 純一、荒木 祥和
2024.6.3-6.5 幕張メッセ国際会議場(千葉県)
https://conference.wdc-jp.com/microscopy/conf2024/